Penggunaan meter sumber berketepatan tinggi dalam ujian pengeluaran besar-besaran diod

Diod ialah peranti elektronik yang diperbuat daripada bahan semikonduktor (silikon, selenium, germanium, dll.). Ia mempunyai kekonduksian satu arah, iaitu, apabila voltan ke hadapan digunakan pada anod diod, diod dihidupkan. Apabila voltan terbalik digunakan pada anod dan katod, diod dimatikan. Diod digunakan secara meluas. Khususnya, dalam pelbagai litar elektronik, diod disambungkan secara munasabah dengan komponen seperti perintang, kapasitor, dan induktor untuk membentuk litar dengan fungsi yang berbeza, yang boleh merealisasikan pelbagai fungsi seperti pembetulan AC, pengesanan isyarat termodulat, pengehadan amplitud dan pengapit, dan penstabilan voltan voltan bekalan kuasa. Sama ada dalam litar radio biasa atau dalam perkakas rumah lain atau litar kawalan industri, kesan diod boleh ditemui.

Terdapat perbezaan besar antara ujian pengeluaran kumpulan diod dan ujian diod di bawah keadaan makmal. Pertama, saiz kelompok ujian industri adalah besar, dan instrumen ujian menguji puluhan ribu diod secara purata setiap hari. Harga diod berbungkus dalam pasaran global secara amnya lebih murah, dan hanya pengeluaran berskala besar boleh mencapai daya pengeluaran yang tinggi untuk membuat pengilang menguntungkan. Oleh itu, instrumen diperlukan untuk mencapai ujian yang berterusan dan pantas. Kedua, instrumen ujian dikehendaki mempunyai tahap serba boleh tertentu, dapat menguji pelbagai jenis diod berpakej, dan boleh menukar jenis pada bila-bila masa. Ketiga, ia dikehendaki menggunakan voltan atau arus dengan ketat mengikut syarat ujian untuk memastikan ketepatan ujian tertentu. Oleh itu, sistem ujian untuk diod berpakej ialah sistem automatik sepenuhnya bersepadu, yang boleh menyelesaikan satu siri tugas daripada memberi makan, menyusun, menguji, saringan sutera hingga pembungkusan diod. Tiada campur tangan manual diperlukan semasa keseluruhan ujian.

Sistem ujian diod terdiri daripada dua bahagian. Satu bahagian ialah mesin kawalan (manipulator, lekapan, penghantar, dsb.), yang terutamanya mengawal keseluruhan proses diod daripada penyusuan kepada pembungkusan. Bahagian lain ialah meter sumber digital berketepatan tinggi NGI, yang digunakan untuk menetapkan keadaan ujian untuk menguji parameter utama diod seperti voltan dalam keadaan (VF), voltan pecahan terbalik (VR) dan arus bocor ( IR), dan juga mempunyai fungsi seperti penyaringan dan penyusunan penggredan.

Meter sumber digital berketepatan tinggi siri NGI N2600 berfungsi dalam empat kuadran, menyepadukan enam fungsi punca voltan, punca arus, meter berbilang digital (ukuran I/V/R) dan beban. Julat pengukuran meliputi 200V hingga 1μV, 1A hingga 10pA, 200MΩ hingga 10μΩ, dan resolusi pengukuran mencapai 6.5 digit. Ia mempunyai mod imbasan terbina dalam, IO digital, ujian had, pencetus segerak, penjana isyarat, kalkulator fungsi dan fungsi lain, dan menyediakan perisian kawalan PC standard percuma, yang sangat sesuai untuk ujian pengeluaran kelompok diod berpakej.

Jadual meter sumber digital siri N2600 berketepatan tinggi dilengkapi dengan 10 port IO digital. Isyarat IO digital boleh digunakan untuk menyambung dengan manipulator untuk mengawal manipulator untuk melakukan ujian kekutuban dan saringan gred pada diod. Diod boleh dikelaskan kepada tahap kecacatan produk melalui ujian prestasi elektrik, yang secara amnya dibahagikan kepada empat tahap: AAA, AA, A, dan D. Produk yang rosak dihapuskan melalui pemeriksaan berperingkat, dan pengeluar boleh menghantar mengikut keperluan pelanggan. Isyarat output setiap port IO digital meter sumber mewakili sejenis maklumat, seperti "peranti yang baik", "peranti rosak", "peranti berputar", dll. Pakej diod atau diod diletakkan dalam lekapan ujian dan disambungkan kepada output meter sumber. Bergantung pada pakej diod, sesetengah diod adalah fotosensitif. Untuk mengelakkan arus berbahaya, ruang persekitaran ujian yang boleh melindungi diod daripada cahaya biasanya digunakan. Meter sumber memberikan pincang voltan atau pincang arus kepada diod dan melengkapkan pengukuran, membandingkan hasil pengukuran dengan nilai ekstrem pratetap dan membuat pertimbangan lulus atau gagal.

● Proses ujian pencetus segerak bagi meter sumber berbilang

1. Pengendali menghantar arahan operasi melalui komputer hos dengan mengklik butang "Mulakan Ujian", menunggu penghantar dan robot dan lekapan memberi makan kepada kumpulan pengeluaran diod.
2.Komputer hos menghantar arahan melalui LAN untuk mengawal meter sumber N2600 untuk mula berfungsi.
3. Meter sumber N2600 menunggu isyarat pencetus ujian mula (SOT) daripada robot.
4. Robot menghantar isyarat pencetus SOT ke meter sumber N2600, menunjukkan bahawa semua diod sedia untuk ujian segerak.
5. Meter berbilang sumber N2600 dicetuskan serentak untuk melaksanakan ujian kekutuban. Jika ujian kekutuban diod adalah positif, maka meter sumber berbilang N2600 meneruskan ujian kefungsian (langkah 6). Jika ujian kekutuban diod adalah terbalik, kemudian hantar isyarat IO digital kepada robot untuk memutar peranti dan kembali ke langkah 4. (Apabila ujian kekutuban diterbalikkan, peranti juga boleh diputar tanpa putaran. Memandangkan meter sumber N2600 berfungsi dalam empat kuadran, arah keluaran voltan dan arus boleh dikawal oleh perisian untuk mencapai ujian, menjimatkan masa operasi robot memutar peranti)
6. Apabila kekutuban diod positif, meter sumber N2600 melakukan ujian kefungsian diod dalam susunan yang ditunjukkan oleh program ujian berjalan, membuat pertimbangan yang layak dan menyimpan data setiap ujian.
7. Meter sumber N2600 menghantar isyarat IO digital kepada robot untuk penggredan dan pengisihan, dan menghantar isyarat penamat ujian (EOT) kepada robot untuk operasi tinju, dan menyimpan data maklumat produk setiap tinju.
8.Tunggu kumpulan ujian penyuapan diod seterusnya dan ulangi langkah ujian di atas secara automatik.