N5831 Siri Supercapacitor/Kapasitans Bateri & Penguji DCIR

●R&D, pengeluaran dan pemeriksaan kualiti supercapacitor

●Penyelidikan bahan supercapacitor

●Bidang lain berkaitan supercapacitor

Pelbagai model dan spesifikasi untuk memenuhi keperluan yang berbeza

1) Julat voltan: 0-200V, julat semasa: 0-1200A, julat kuasa: 0-200kW.

2) Reka bentuk modular, penyesuaian kuasa tersedia.

3) Pelbagai lekapan ujian dan julat kuasa yang dilindungi secara meluas untuk menyokong kedua-dua ujian sel dan modul.

4) Ketepatan keluaran voltan: 0.05%, ketepatan keluaran semasa: 0.05%.

Persampelan frekuensi tinggi untuk meningkatkan ketepatan pengukuran

Kadar pensampelan voltan dan arus adalah sehingga 1ms. Kadar pensampelan yang tinggi memberikan kemungkinan untuk pengiraan kapasitans yang tepat.

Pelbagai lekapan ujian untuk memenuhi permintaan ujian yang berbeza

Siri N5831 menyediakan empat jenis lekapan ujian pilihan. Jenis penumbuk adalah lekapan universal, sesuai untuk pelbagai bateri silinder. Jenis kedua ialah klip buaya, sesuai untuk penyelidikan saintifik (termasuk untuk peralatan arus tinggi). Mana-mana bateri berbentuk khas untuk tujuan penyelidikan boleh diapit dengan mengetuai elektrod pengecas & nyahcas dan elektrod pengukur. Jenis ketiga ialah tekstur khas untuk bateri polimer. Jenis keempat ialah tekstur khas untuk bateri butang.

Tindak balas pantas semasa cas-to-discharge

N5831 direka bentuk dengan litar jitu untuk memastikan peralihan pengecasan dan penyahcasan yang pantas dan tepat. Semasa proses pengecasan, tiada cas berlebihan semasa pengecasan CC bertukar kepada pengecasan CV, yang boleh melindungi DUT daripada rosak. N5831 mempunyai ciri-ciri peralihan lancar daripada pengecasan CV kepada pengecasan CC dan kadar pensampelan sehingga 1ms, yang boleh memenuhi keperluan ujian QC/T 741, kaedah enam langkah dan kaedah pengecasan-ke-penyahcasan untuk DCIR.

Pengukuran empat elektrod untuk mengurangkan ralat pengukuran

Lekapan ujian yang dibekalkan adalah dengan 4 elektrod. Dua elektrod keluaran digunakan untuk menyediakan arus ujian, dan dua elektrod pengukuran digunakan untuk mengukur voltan bateri. Pengukuran berbilang elektrod bukan sahaja meningkatkan ketepatan pengukuran, tetapi juga menyokong ujian elektrod rujukan, yang sesuai untuk penyelidikan bahan elektrod.

Pemerolehan suhu berbilang saluran

Siri N5831 menyokong pemerolehan suhu 16 saluran, yang sesuai untuk pelbagai NTC (Pekali Suhu Negatif), memenuhi keperluan pemantauan masa nyata suhu dalaman modul supercapacitor, dan memastikan keselamatan dan kestabilan semasa ujian.

Perisian aplikasi

1) Perisian N5831 menggunakan reka bentuk platform, yang membolehkan pengguna menyesuaikan proses ujian mengikut keperluan mereka.

2) Antara muka seperti pejabat, paparan bebas setiap saluran, voltan sokongan dan penjanaan bentuk gelombang semasa, dan paparan hasil dalam bentuk jadual menjadikan perisian profesional ini berbilang fungsi dan mudah digunakan.

3) N5831 direka bentuk dengan litar had kuasa dan mempunyai tindak balas yang pantas, yang boleh menghalang N5831 daripada rosak akibat lebihan kuasa.

4) N5831 menggunakan teknologi perisai, yang mempunyai kebolehsuaian yang luas kepada persekitaran ujian yang keras, dan meningkatkan keupayaan anti-gangguan.

Ujian kapasiti

N5831 boleh mengukur kapasitans pengecasan dan kapasitans nyahcas superkapasitor. Kaedah ujian adalah seperti berikut: mengecas atau nyahcas superkapasitor yang diukur di bawah mod CC, merekodkan masa dan voltan semasa proses pengecasan atau nyahcas, dan mengira kapasitans dengan mengira kadar lilitan voltan dan masa semasa proses. Pengguna boleh memilih voltan dan masa untuk pengiraan mengikut pelbagai piawaian pengukuran, seperti IEC.

Ujian DCIR

N5831 menyokong pelbagai kaedah ujian DCIR: pelbagai nadi, nadi tunggal, cas-ke-nyahcas, ujian enam langkah dan ujian IEC, yang boleh memenuhi keperluan ujian kebanyakan pengguna. Teknologi teras NGI memastikan keputusan yang sangat tepat diperoleh dalam pelbagai kaedah ujian.

Ujian hidup

N5831 boleh mengukur parameter fizikal supercapacitor semasa proses pengecasan dan nyahcas berulang dan mengekstrak lengkung pengecilannya. Dengan menganalisis parameter dan lengkung, pengguna boleh memperoleh jangka hayat supercapacitor dalam persekitaran aplikasi yang berbeza, kitaran pengecasan dan nyahcas, dan indeks prestasi pada peringkat yang berbeza. Keputusan ujian hayat boleh digunakan untuk menambah baik bahan, kraf, penyimpanan dan banyak pautan lain.